Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74LVTH18646APM
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Texas Instruments
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74LVTH18646APM
информация о продукте
- Logic Type :
- ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 18
- Operating Temperature :
- -40°C ~ 85°C
- Package / Case :
- 64-LQFP
- Part Status :
- Active
- Supplier Device Package :
- 64-LQFP (10x10)
- Supply Voltage :
- 2.7V ~ 3.6V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
MTSW-140-07-F-S-140
MTSW-140-13-L-Q-225
6160.0158
EGG.4K.312.CLL
ABM12W-24.5454MHZ-8-B2U-T3
FN9255B-10-06
FC3BQBBMM12.0-T1
TVPS00RS-13-4HN
TV06DZ-19-11SC
PS0SSSSXA
MTSW-140-11-T-D-730
405C11A24M57600
ECS-35-17-4DN
4305.0050.04
CB6FC32-17SS
MTSW-140-22-T-T-440
MTSW-140-07-F-S-145
MTSW-140-13-L-Q-430
6163.0016
D38999/26LB2SN
