Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74BCT8374ADWR
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Texas Instruments
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74BCT8374ADWR
информация о продукте
- Logic Type :
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Part Status :
- Obsolete
- Supplier Device Package :
- 24-SOIC
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
MTSW-103-23-G-T-240
DL66R-24-57S3-6116
8D3917F99AN
AT04-4P-SR02GRY
8D3917W06PN-LC
8D3913W08BC
624026213322
MTSW-105-22-G-D-395
0511100652
DL64R-22-12P3C012
DL64R-20-16S7C019
AT04-4P-WHT
8D3925F07SA-LC
DL60R-22-55P1C019
TMM-106-01-G-S-003
DL66R-24-57S3C019
MTLW-105-07-S-S-200
8D3917F99BA
AT04-4P-SR01GRY
8D3917W06SA-LC
