Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74BCT8374ADWR
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Texas Instruments
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74BCT8374ADWR
информация о продукте
- Logic Type :
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Part Status :
- Obsolete
- Supplier Device Package :
- 24-SOIC
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
FW-30-03-G-D-163-065
CA3100E20A48SB08
SSW-113-02-S-S
80-68214-7P
150220-5022-TB
VG95234B1-20A48SN
SSW-104-02-S-S-RA
FW-29-01-L-D-200-065
DTS20G21-35PE-6149
FW-30-05-L-D-500-070
VG95234M-28-22PW
FW-30-05-G-D-575-075
CA3106E28-10PB14
DG1236R14-19S2
929984-01-12
DTS24G25-24PC6149
FW-30-03-G-D-163-075
CA3100E20A48SB09
SSW-112-02-S-S
M39029/10-138
