Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74BCT8374ADWRE4
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Texas Instruments
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74BCT8374ADWRE4
информация о продукте
- Logic Type :
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Part Status :
- Obsolete
- Supplier Device Package :
- 24-SOIC
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
QT252S-40.000M-GPR
MTSW-104-10-G-S-300
10124632-0102001LF
DTS20F09-98HE [V001]
10136830-1642301LF
LFXTAL030798REEL
3-2013310-5
JT07RE18-35P
MTSW-104-05-F-D-190
QT49S-22.000MAAE-T
D38999/26JH55PB
MTSW-104-09-G-S-260-RA
C48-06R22-19S6-402
MTSW-104-07-T-D-001
MA-506 7.0000M-C3: ROHS
0877053051
QT252S-12.000MEDV-T
MTSW-104-10-G-S-310-RA
10079248-11206LF
D38999/26JH53SA
