Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74BCT8374ANT
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Rochester Electronics
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74BCT8374ANT
информация о продукте
- Logic Type :
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Mounting Type :
- Through Hole
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Part Status :
- Obsolete
- Supplier Device Package :
- 24-PDIP
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
D38999/20TG27PDL
431403-25-0
MMCX-LR-SMT(40)
1723163110
TSM-102-01-S-DH-A-TR
082-5380-RFX
14004-2
T38563-25-0
TB100-19SS
D38999/26FD15SNL
MTSW-118-07-T-S-210
1285-6004
D38999/24FF35SDL
D38999/24ZJ11AC
431502-25-0
SMB7H-J-P-H-ST-TH1
D38999/24FD97PAL
5-2367197-0
800-80-019-30-001101
TMM-104-06-F-D-SM-P-TR