Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74BCT8240ANTG4
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Texas Instruments
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74BCT8240ANTG4
информация о продукте
- Logic Type :
- Scan Test Device with Inverting Buffers
- Mounting Type :
- Through Hole
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Part Status :
- Obsolete
- Supplier Device Package :
- 24-PDIP
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
0638235275
1-455888-1
RNC50H1562DSRSL
RNC60J5111FSBSL
CX10S-HACGDB-P-A-DK00000
240641-7
RN73H2BTTD3002B25
373503-1
CX10S-GACCAG-P-A-DK00000
Y00605R00000F9L
RN73H2BTTD2672B50
CX10S-HCDADA-P-A-DK00000
RT1210CRE076K19L
RWR81S12R0FMB12
CX10S-DBCHAA-P-A-DK00000
RN73H2BTTD1173C50
0638235375
1-455888-9
RNC50H1500DSBSL
RNC60J2002FSBSL
