Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74BCT8374ANTG4
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Texas Instruments
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74BCT8374ANTG4
информация о продукте
- Logic Type :
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Mounting Type :
- Through Hole
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Part Status :
- Obsolete
- Supplier Device Package :
- 24-PDIP
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
3RA21201HQ270AK6
RBP-140+
LCMXO1200C-5M132C
SIT3372AC-1E3-25NE15.360000
A3P400-FG484
595CE74M1758DG
AS5800N322
3RA22251CD230BB4
AE3800L9255
591FB266M666DGR
3RE41223CA111EF6
RCS1A-10V
3RE41226CA314EF6
A42MX09-2VQ100I
LFXP20E-4F484I
3RA22101KH172BB4
LP0BA0790A7TR\250
LCMXO1200C-5T144C
SIT3372AC-1E3-28NU74.250000
A54SX32A-TQG176I
