Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74BCT8374ADW
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Texas Instruments
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74BCT8374ADW
информация о продукте
- Logic Type :
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Part Status :
- Active
- Supplier Device Package :
- 24-SOIC
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
DTS20W13-04PA-3028
5822330-3
SXT32421CB07-14.31818MT
SIM7050-6-0-00-A
MTSW-104-09-L-D-009
FGG.2B.312.EWAM42Y
MS3450L24-28S
MTSW-104-10-L-S-010-LA
10037402-11109LF
RT3215-32.768-6-TR
D38999/24FJ19HB
XXEBBCNANF-40.000000
10124632-2031006LF
MTSW-104-06-G-S-022
MTSW-104-08-T-S-000
RH100-40.000-10-F-1010-TR
DTS20W13-04PB-3028
5822330-4
SXT32415CB07-14.31818MT
0474940001
