Обзор продукта
- Номер продукта
- SN74LVTH182646APM
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Rochester Electronics
- Каталог
- Logic - Specialty Logic
- ОПИСАНИЕ продукта
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Документы и СМИ
- Диаши
- SN74LVTH182646APM
информация о продукте
- Logic Type :
- ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 18
- Operating Temperature :
- -40°C ~ 85°C
- Package / Case :
- 64-LQFP
- Part Status :
- Active
- Supplier Device Package :
- 64-LQFP (10x10)
- Supply Voltage :
- 2.7V ~ 3.6V
ОПИСАНИЕ продукта
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Рекомендуемые продукты
Вы можете искать
HCC60DREF-S13
C1210X621G1HAC7800
R21-62-2.00A-B06IV-V
IPA-1-1-61-20.0-A-01
887-040-523-204
FZUYL5E5EAAM092
FZURPENENYNF094
FZURLEN74XNM024
RSA43DTAI
2-5700-IG1-K10-6A
VJ0805Y473JXXAC
FZTYP8E8EBAF060
C430C392KAG5TA7200
C1210X751G4HAC7800
HCC50DRTH-S13
R21-62-20.0A-B01CV-V
C1210X681G1HAC7800
IPA-1-1-62-10.0-A-01-T
FZURLEN74XNM025
FZUYL5E5EAAM093
